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200kV场发射透射电子显微镜
仪器简介:对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料
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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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JEOL JEM-2800 200kV高通量场发射透射电子显微镜
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日本电子CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上一代CRYO ARM
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日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜 新型测角台
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国产场发射透射电子显微镜
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日本电子CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜 外泌体
检测相机TEMography用于Micro ED的自动倾斜系列采集软件EDM(超快附件之剂量控制器)CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的
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日本电子CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 场发射冷冻透射电子显微镜 蛋白质
主机电子枪冷场发射电子枪加速电压300kV, 200kV能量过滤器镜筒内欧米伽能量过滤器附件无孔相位板选配件低加速电压(标准以外的其他加速电压要求,请另行询问)明场STEM探测器暗场STEM探测器
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